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    公开号:WO1988000714A1
    申请号:PCT/DE1987/000237
    申请日:1987-05-23
    公开日:1988-01-28
    发明作者:Herbert Leiter；Herbert Koch；Andreas Hund；Günter REINHEIMER
    申请人:Ernst Leitz Wetzlar Gmbh；
    IPC主号:G02B21-00
    专利说明:
    [0001] Verfahren zum Fotografieren mikroskopischer Objekte und Vorrichtung zu dessen Durchführung
    [0002] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum wahlweisen Fotogra¬ fieren, mit verkürzten und gespeicherten Belichtungszeitwerten bzw. mit während des Belichtungsvorgangs korrigierten Belich- tungszeitwerten, wobei ein ortsvariabler Meßfleck sowie Aufnah- mefeldmarkierungen vor und nach der Aufnahme sichtbar gemacht werden, sowie eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Ver¬ fahrens.
    [0003] Aus der DE-PS 26 19853 ist eine mikrofotografische Einrichtung als Aufsatzkamera für Mikroskope bekannt, die eine Belichtungs- korrektur während des Belichtungsvorgangs mittels eines fest eingebauten 50/50-Neutral-Strahlenteilers ermöglicht. Dabei ist es nachteilig, daß der im Fotostrahlengang fest angeordnete Strahlenteiler 50% der zur Verfügung stehenden Lichtmenge für die Belichtungssteuerung verbraucht. Dadurch gelangen lediglich 50% des Lichtes zum Film. Die Folge sind um den Faktor "zwei" verlängerte Belichtungszeiten. Dieser Umstand wirkt sich insbe¬ sondere dann in sehr nachteiliger Weise aus, wenn - wie bei speziellen Mikroskopierverfahren üblich - Objekte sehr geringer Lichtintensität beobachtet und registriert werden sollen.
    [0004] Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Nachteile bekannter mikrofotografischer Einrichtungen und Verfahren zu beseitigen und ein Verfahren sowie eine Vor- richtung anzugeben, bei dem bzw. mit der ein hoher Zeitgewinn, insbesondere bei Verwendung von Großformat-Kamera-Aufsätzen, zu erzielen ist und außerdem eine Erweiterung der fotografischen Registriermöglichkeiten, vor allem von Fluoreszenz-Kleinbild¬ aufnahmen mit verkürzten Belichtungszeiten, die sonst infolge Objektzerstörung bei den bisher üblichen langen Zeiten nicht mehr möglich waren, gegeben ist. Eine weitere Teilaufgäbe be¬ steht darin, den Vorteil der Belichtungskorrektur während der Belichtung für eine- Reihe von Anwendungsfällen bei Fluoreszenz¬ aufnahmen durch die Wahl des Belichtungsprogrammes weiterhin zu erhalten, also sowohl das Fotografieren mit verkürzten Belich¬ tungszeiten wie auch die wahlweise Belichtungskorrektur während der Aufnahme miteinander zu vereinen.
    [0005] Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs genannten Art erfindungsgemäß durch die Merkmale des Anspruchs 1, sowie jeweils alternativ durch die Ansprüche 2, 3 bzw. 4 gelöst. Wei¬ tere Ausgestaltungen ergeben sich aus den Verfahrensansprüchen 5 bis 8. Die Aufgabe wird weiterhin durch eine Vorrichtung zur Durchführung der eingangs genannten Verfahren gemäß Anspruch 9 gelöst; weitere Ausgestaltungen ergeben sich aus den Vorrich- tungsansprüchen 10 bis 14. Tn der Zeichnung ist eine Ausführungsform der Erfindung schema¬ tisch dargestellt. Der Fotostrahlengang 16 geht von einem zu untersuchenden Objekt 6 aus und verläuft entlang der optischen Mikroskopachse 26 über ein Fotookular 19, ein Strahlenteiler- System 1 und einen Verschluß 20 hin zur Bildaufnahme-Ebene 18, in der beispielsweise ein Film positioniert sein kann.
    [0006] Der Beobachtungsstrahlengang 13 geht ebenfalls von dem Objekt 6 aus und wird an einer Teiler-Fläche eines in der optischen Mikroskopachse 26 angeordneten Teiler-Prismas in das Mikroskop- okular 5 umgelenkt, wo er zum Beobachter 27 gelangt. Eine
    [0007] Dunkelklappe 12 kann in Wirkstellung beobachterseitiges Stör¬ licht bei bestimmten Programmfunktionen fernhalten.
    [0008] Von einer Lampe 8 geht ein Beleuchtungs-Teilstrahlengang 14 aus, der nach Durchtritt durch eine Format-Strichplatte 3, die außer- dem ein Schärfekreuz aufweist, und nach Umlenkung an einem ent¬ sprechenden Optikbauteil auf einen 50/50-Strahlenteiler 25 auf¬ trifft, wo er mit einem weiteren Beleuchtungs-Teilstrahlengang 15 wiedervereinigt wird. Der Beleuchtungs-Teilstrahlengang 15 geht ebenfalls von der Lampe 8 aus und trifft nach zweimal ger Umlenkung auf einen im Meßstrahlengang 10 ausschiebbar ange¬ ordneten Vollspiegel, der auch als Drehspiegel 11 ausgebildet sein kann, und von dort aus durch eine ortsfeste Integralme߬ blende 23 sowie einen unmittelbar dahinter ausschiebbar ange¬ ordneten Detailmeßblenden-Träger 7, der innerhalb seiner Ebene ortsvariabel gehaltert ist, auf den schon erwähnten Strahlen¬ teiler 25, von dem aus der vereinigte Beleuchtungsstrahlengang 14,15 auf das Strahlenteiler-System 1 fällt. Im dargestellten Fall befindet sich der Glaswürfel la in Wirkstellung, also in der optischen Mikroskopachse 26. Dieser Glaswürfel la besitzt eine vollverspiegelte Diagonalfläche, die in 45°-Stellung zur vertikalen optischen Mikroskopachse 26 und zum vereinigten Beleuchtungsstrahlengang 14, 15 steht. Der neben dem Glaswürfel la angeordnete Strahlenteiler-Würfel lc weist eine Strahlenteiler-Fläche in DiagonalStellung auf, die ein diskretes Transmissions-/Reflexions-Verhältnis zwischen 95/5 und 99,5/0,5 - vorzugsweise 99/1 - aufweist.
    [0009] Der Strahlenteiler-Würfel lb weist eine Teiler-Fläche in Diago- nalstellung auf, die ein Transmissions-/Reflexions-Verhältnis 50/50 aufweist. Es sei betont, daß zusätzlich oder alternativ zu den angegebenen Strahlenteiler-Würfeln auch solche Verwendung finden können, die andere physikalische oder geometrische Strah- lenteilungseigenschaften aufweisen. Die Verstellung des Strahlenteiler-Systems 1 erfolgt motorisch.
    [0010] Der Meßstrahlengang 10 geht vom Strahlenteiler-System 1, ge¬ nauer von dem in der Zeichnung in Wirkstellung befindlichen Glaswürfel la, aus und wird nach Umlenkung an dem Strahlen- • teiler 25 bei ausgeklapptem Vollspiegel (oder Drehspiegel 11) auf den Lichtempfänger 21 geworfen. Der Drehspiegel 11, der in der zeichnerischen Darstellung als ausschiebbarer Klappspiegel dargestellt ist, wird programmgesteuert motorisch bewegt und besitzt ein Labyrinth, welches in Wirkstellung den Licht- empfänger 21 lichtdicht abschließt. Dies bringt Vorteile für die DunkelStromkompensation. So ist es beispielsweise bei bekannten mikrofotografischen Einrichtungen nur möglich, eine Dunkel- stromkompensation zu realisieren, wenn ein Foto-Tubus benutzt wird, der eine Schieberstellung enthält, in der kein Licht zur Lichtmeßeinrichtung gelangen kann. Die programmgesteuert motorisch in den Strahlengang 15 ein¬ schwenkbare Dunkelklappe 9 hat zwei Funktionen. Bei Integral- messung wird für die Bildbeobachtung die Dunkelklappe 9 in Wirk¬ stellung geschaltet, um zu verhindern, daß die Integralmeßblende 23 von hinten beleuchtet wird. Diese würde sich andernfalls in ihrer ganzen Größe dem Objektbild überlagern. Die zweite Funktion besteht darin, daß sie bei jeder Lichtmessung einge¬ schaltet bleibt. Damit wird verhindert, daß Streulicht aus dem Entlüftungssystem des Lampengehäuses sich dem Meßlicht über- lagert und die Messung verfälscht.
    [0011] Der Wechsel zwischen Integral- und Detailmessung erfolgt in der erfindungsgemäßen Vorrichtung bzw. den entsprechenden Verfahren in der Weise, daß die Integralmeßblende 13 immer fest an ihrem Ort verbleibt. Für eine Spotmessung wird die ortsvariable Teil- meßblende 24 bzw. ihr Träger 7 beispielsweise über einen Hub- Magneten dicht vor die Integralmeßblende 23 durch Knopfdruck vom Steuergerät 28 geschaltet. Ein bei einem bekannten mikrofoto¬ grafischen Verfahren bisher übliches' Graufilter (1%), welches die Transmission der Integralmeßblende an die Transmission der Detailmeßblende anpaßte, kann bei der vorliegenden Erfindung entfallen, da statt dessen ein Strahlenteiler-Würfel lc in Wirkstellung gefahren werden kann. Der Detailmeßblenden-Träger 7 ist beispielsweise mit einem Hubmagneten auf einem Schlitten montiert, der über zwei Elektromotore vom Steuergerät 28 aus bedient wird. Die Markierungen für Aufnahmefeider auf der Format-Strichplatte 3 können auf einer beweglichen Maske aufgebracht sein, die sich einer Kugelschalen-Fl che anpaßt, die der Bildfeldwölbung ent¬ spricht. Dadurch bleibt die Bildschärfe der Markierungen über 5. das gesamte Feld erhalten.
    [0012] Im Bedarfsfall kann ein Farbtemperatur-Meßstrahlengang 17 realisiert werden. Die Farbtemperaturmessung wird eingeleitet durch Einschub des Umlenkspiegels 29 in den Meßstrahlengang 10. Der in Wirkstellung befindliche Spiegel 29 wird beispielsweise 0 von einer Reflexlichtschranke registriert, die ihrerseits das Steuergerät 28 auf Farbtemperaturmessung umschaltet. Die gemes¬ sene Farbtemperatur erscheint in der Anzeige des Steuergerätes 28 anstelle der sonst angezeigten Filmempfindlichkeit.
    [0013] Rein schematisch ist in der Figur das Steuergerät 28 mit zuge- 5 hörigem Belichtungssteuersystem 2 und der Auslösetaste 22 dar¬ gestellt. Die Pfeile verdeutlichen die funktionalen Verknüpfungen zu den einzelnen opto-mechanisehen Baugruppen.
    [0014] Anstelle eines Farbtemperaturmeßansatzes kann über den Umlenk¬ spiegel 29 auch ein Computerblitz-Seπsor mit Gehäuse angesetzt 0 werden. Die Stellung des Spiegels 29 wird wiederum von einer Reflexlichtschranke registriert. Eine entsprechende opto-e'ek- tronische Ankopplung führt im Steuergerät 28 zu einer automa¬ tischen Blitzbereitschaft, wobei bei dieser Funktion automa¬ tisch auf Integralmessung geschaltet wird. Das hohe Transmissions-/Reflexions-Verhältnis von beispiels¬ weise 99/1 der Teilerfläche des Strahlenteiler-Würfels lc wird erreicht durch die Brechzahldifferenz zwischen Glas und Kitt¬ schicht des betreffenden Bauteils. Das Strahlenteiler-System 1 wird programmgesteuert motorisch bewegt und durch nicht mitdargestellte Gabellichtschranken positioniert.
    权利要求:
    ClaimsA n s p r ü c h e
    1. Verfahren zum Fotograf ere.n mikroskopischer Objekte unter Berücksichtigung zu ermittelnder Belichtungszeitwerte sowie zum Sichtbarmachen eines ortsvariablen Meßflecks und einer Aufnahmeformatmarkierung vor und nach der Aufnahme, d a - 5. d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß ein im Fotostrah¬ lengang (16) querverschieblich angeordnetes Strahlenteiler- System (1), welches Teilerfl chen unterschiedlicher Transmis- sions-/Reflexions-Verhältnisse (lb;lc) und zusätzlich eine Vollverspiegelungsfl che (la) aufweist, ein im Meßstrahlengang 0 (10) vor dem Lichtempfänger (21) angeordneter Drehspiegel (11) sowie eine- im .Beleuchtungsstrahlengang (15) angeordnete Dunkel¬ klappe" (9) zur Realisierung mikrofotografischer Aufnahmen mit verkürzten und gespeicherten Belichtungszeiten unter -Ausführung einer Spotmessung mittels des ortsvariablen Meßflecks nach fol- 5 genden Verfahrensschritten angesteuert und positioniert werden: a) das Strahlenteiler-System (1) wird in der optischen Mikroskopachse (26) derart positioniert, daß die Vollverspiegelungsfläche des Glaswürfels (la) in Diagonalstellung die Beleuchtungsstrahlengänge (14 bzw. 15) über das Fotookular (19) in das Mikroskopokular (5) umlenkt;
    (b) nach Einstellen der Bildschärfe, Auswählen des Bildaus¬ schnitts des Objekts (6) und Positionieren der ortsvari¬ ablen Detailmeßblende (24) durch^den Beobachter (27) in Wirkstellung erfolgt ein
    (c) Betätigen einer Auslösetaste (22) an einem Steuergerät (28), wodurch folgende Funktionen ausgelöst werden:
    (cl) eine Lampe (8) schaltet sich aus;
    (c2) eine Dunkelklappe (9) schwenkt in den Beleuchtungs- strahlengang (15) ein;
    (c3) der Drehspiegel (11) schwenkt aus dem Meßstrahlen¬ gang (10) aus;
    (c4) eine Dunkelklappe (12) im Beobachtungsstrahlen¬ gang (13) klappt in Wirkstellung; (c5) der Lichtempfänger (21) mißt das durch die Detail¬ meßblende (24) fallende Licht, der durch den Lichtem¬ pfänger (21) gemessene Wert wird sodann einem Belich¬ tungssteuersystem (2) zugeführt und gespeichert;
    (c6) das Strahlenteiler-System (1) wird nunmehr derart positioniert, daß der Strahlenteiler-Würfel (lc) mit derjenigen Teilerfläche in Diagonalstellung quer zur optischen Mikroskopachse (26) gelangt, die ein Trans- missions-/Reflexionsverhältnis von 99/1 aufweist; (c7) das Belichtungssteuersystem (2) öffnet nach Maßgabe des jeweils gespeicherten Wertes den Verschluß (20) für eine Belichtung eines in der Ebene (18) angeord¬ neten Bildaufnahmemediums, beispielsweise eines Films;
    (c8) nach erfolgter Belichtung und Sperren des Verschlus¬ ses (20) für den weiteren Durchtritt des Fotostrah¬ lengangs (16) wird das Strahlenteiler-System (1) wie¬ der in die Ausgangsposition - also der Glaswürfel (la) in Wirkstellung - zurückgeführt, wobei gleich¬ zeitig die Lampe (8) eingeschaltet, die Dunkelklappen (9 bzw. 12) ausgeschaltet, der Drehspiegel (11) in den Meßstrahlengang (10) geschwenkt und das Bildauf¬ nahmemedium weitertransportiert werden.
    2. Verfahren zum Fotografieren mikroskopischer Objekte unter Berücksichtigung zu ermittelnder Belichtungszeitwerte sowie zum Sichtbarmachen einer Aufnahmeformatmarkierung vor und nach der Aufnahme,»d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß ein im Fotostrahlengang (16) querverschieblich angeordnetes Strahlenteiler-System (1), welches Teilerflächen unterschied¬ licher Transmissions-/Reflexions-Verhältnisse (lb;lc) und zusätzlich eine Vollverspiegelungsfläche (la) aufweist, ein im Meßstrahlengang (10) vor dem Lichtempfänger (21) angeordneter Drehspiegel (11) sowie eine im Beleuchtungsstrahlengang (15) angeordnete Dunkelklappe (9) zur Realisierung mikrofoto¬ grafischer Aufnahmen mit verkürzten und korrigierten Belich¬ tungszeiten unter Ausführung einer Belichtungskorrektur bei Integralmessung nach folgenden Verfahrensschritten angesteuert und positioniert werden: (a) das Strahlenteiler-System (1) wird in der optischen Mikro¬ skopachse (26) derart positioniert, daß die Vollverspiege- lungsfläche des Glaswürfels (la) in Diagonalstellung den Beleuchtungsstrahlengang (14) über das Fotookular (19) in das Mikroskopokular (5) umlenkt;
    (b) nach Einstellen der Bildschärfe und Auswählen des Bildaus¬ schnitts des Objekts (6) durch den Beobachter (27) erfolgt ein
    (c) Betätigen einer Auslösetaste (22) an einem Steuergerät (28), wodurch folgende Funktionen ausgelöst werden:
    (cl) bei in dem Beleuchtungsstrahlengang (15) belassener Dunkelklappe (9) wird eine Lampe (8) ausgeschaltet; (c2) der Drehspiegel (11) wird aus dem Meßstrahlengang(lO) geschwenkt; (c3) der Detailmeßblenden-Träger (7) wird aus dem Meßstrah¬ lengang (10) geschwenkt; (c4) eine Dunkelklappe (12) wird in den Beobachtungsstrah¬ lengang (13) eingeführt; (c5) das Strahlenteiler-System (1) wird nunmehr derart positioniert, daß der Strahlenteiler-Würfel (lc) mit derjenigen Teilerfläche in DiagonalStellung zur opti¬ schen Mikroskopachse (26) gelangt, die ein Transmis- sions-/Reflexionsverhältnis von 99/1 aufweist; (c6) der Lichtempfänger (21) mißt das durch eine ortsfeste Integralmeßblende (23), die durch Verschieben des die Detailmeßblende (24) aufweisenden Trägers (7) aus dem Meßstrahlengang (10) freigelegt wird, fallende Licht und der gemessene Wert wird sodann einem Be¬ lichtungssteuersystem (2) zugeführt und gespeichert; (c7) das Belichtungssteuersystem (2) öffnet nach Maßgabe des jeweils gemessenen Wertes den Verschluß (20) für eine Belichtung eines in der Ebene (18) angeord¬ neten Bildaufnahmemediums, beispielsweise eines Films, wobei die Belichtungsmessung während des Be¬ llchtungsvorgangs erfolgt und bei sich verändernden Objekthelligkeiten gleichzeitig eine entsprechende Korrektur der Belichtungszeit vorgenommen wird, (c8) nach erfolgter Belichtung und Sperren des Verschlus- ses (20) für den weiteren Durchtritt des Fotostrah¬ lengangs (16) wird das Strahlenteiler-System (1) wie¬ der in die Ausgangsposition - der Glaswürfel (la) also in Wirkstellung - zurückgeführt, wobei gleichzeitig die Lampe (8) eingeschaltet, der Drehspiegel (11) in den Meßstrahlengang (10) geschwenkt, die Dunkel¬ klappe (12) ausgeschaltet und das Bildaufnahmemedium weitertransportiert werden.
    3. Verfahren zum Fotografiereh mikroskopischer Objekte unter Berücksichtigung zu ermittelnder Belichtungszeitwerte sowie zum Sichtbarmachen eines ortsvariablen Meßflecks und-einer Aufnahmeformatmarkierung vor und nach der Aufnahme, d a ¬ d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß ein im Fotostrah¬ lengang (16) querverschieblich angeordnetes Strahlenteiler- System (1), welches Teilerflächen unterschiedlicher Transmis- sions-/Reflexions-Verhältnisse (lb;lc) und zusätzlich eine
    Vollverspiegelungsfläche (la) aufweist, ein im Meßstrahlengang (10) vor dem Lichtempfänger (21) angeordneter Drehspiegel (11) sowie.eine im Beleuchtungsstrahlengang (15) angeordnete Dunkelklappe (9) zur Realisierung mi rofotografischer Aufnahmen mit korrigierten Bel chtungszeiten unter Ausführung einer Spot¬ messung mittels des ortsvariablen Meßflecks nach folgenden Verfahrensschritten angesteuert und positioniert werden: (a) das Strahlenteiler-System (1) wird in der optischen Mikro¬ skopachse (26) derart positioniert, daß der Glaswürfel (la) mit Vollspiegel in Diagonalstellung die Beleuchtungs- strahl.engänge (14 und 15) über das Fotookular (19) in das Mikroskopokular (5) umlenkt;
    (b) nach Einstellen der Bildschärfe und Auswählen des Bildaus¬ schnitts des Objekts (6) durch den Beobachter (27) wird die ortsvariable Detailmeßblende (24) bei aus dem Beleuch¬ tungsstrahlengang (15) ausgeklappter Dunkelklappe (9) rückwärtig beleuchtet und mit einer für eine korrekte Be¬ lichtung repräsentativen Stelle des Objekts (6) zur Deckung gebracht;
    (c) danach wird eine Auslösetaste (22) an einem Steuergerät (28) betätigt, wodurch folgende Funktionen ausgelöst wer- den:
    (cl) eine Lampe (8) schaltet sich aus;
    (c2) die Dunkelklappe (9) schwenkt in den Beleuch- - tungsstrahlengang (15) ein; (c3) der Drehspiegel (11) wird aus dem Meßstrahlengang(lO) geschwenkt;
    (c4) eine Dunkelklappe (12) wird in den Beobachtungsstrah¬ lengang (13) eingeführt; (c5) das Strahlenteiler-System (1) wird nunmehr derart po¬ sitioniert, daß der Strahlenteiler-Würfel (1b) mit derjenigen Teilerfläche in Diagonalstellung zur opti¬ schen Mikroskopachse (26) gelangt, die ein Transmis- sions-/Reflexions-Verhältnis von 50/50 aufweist; (c6) der Lichtempfänger (21) mißt das anfallende Licht und der gemessene Wert wird sodann einem Belichtungs- Steuersystem (2) zugeführt und (c7) das Belichtungssteuersystem (2) öffnet unter Berück¬ sichtigung der gemessenen Lichtmenge den Verschluß (20) für eine Belichtung eines in der Ebene (18) an¬ geordneten Bildaufnahmemediums, beispielsweise eines Films, wobei auftretende Helligkeitsänderungen des
    Objektes (6) korrigiert werden;
    (c8) nach erfolgter Belichtung und Sperren des Verschlus¬ ses (20) für den weiteren Durchtritt des Fotostrah¬ lengangs (16) wird das Strahlenteiler-System (1) wieder in die Ausgangsposition - der Glaswürfel (la) also in Wirkstellung - zurückgeführt, wobei gleich¬ zeitig die Lampe (8) eingeschaltet, der Drehspiegel (11) in den Meßstrahlengang (10) geschwenkt, die Dunkelklappen (9 bzw. 12) ausgeschaltet und das Bild- aufnahmemedium weitertransportiert werden.
    4. Verfahren zum Fotografieren mikroskopischer Objekte unter Berücksichtigung zu ermittelnder Belichtungszeitwerte sowie zum Sichtbarmachen eines ortsvariablen Meßflecks und einer Aufnahmeformatmarkierung vor und nach der Aufnahme, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß ein im
    Fotostrahlengang (16) querverschieblich angeordnetes Strahlen¬ teiler-System (1), welches einen Strahlenteiler-Würfel (lc) mit einer Teilerschicht mit einem diskreten, zwischen 95'/5 und 99,5/0,5 liegenden Transmissions-/Reflexions-Verhältnis und zusätzlich einen Glaswürfel mit einer Vollverspiegelungsfläche (la) aufweist, ein im Meßstrahlengang (10) vor dem Licht¬ empfänger (21) angeordneter Drehspiegel (11) sowie eine im Beleuchtungsstrahlengaπg (15) angeordnete Dunkelklappe (9) zur Realisierung mikrofotografischer Aufnahmen mit verkürzten und korrigierten Belichtungszeiten unter Ausführung einer
    Spotmessung mittels des ortsvariablen MeßfTecks nach folgenden Verfahrensschritten angesteuert und positioniert werden: a) das Strahlenteiler-System (1) wird in der optischen Mikroskopachse (26) derart positioniert, daß die Vollver¬ spiegelungsfläche des Würfels (la) in Diagonalstellung die Beleuchtungsstrahlengänge (14 bzw. 15) über das Fotookular (19) in das Mikroskopokular (5) umlenkt; b) nach Einstellen der Bildschärfe, Auswählen des Bildaus¬ schnitts des Objekts (6) und Positionieren der ortsvariablen Detailmeßblende (24) durch den Beobachter (27) in Wirkstellung erfolgt ein c) Betätigen der Auslösetaste (22) an einem Steuergerät (28), wodurch folgende Funktionen ausgelöst werden: (cl) die Lampe (8) schaltet sich aus; (c2) die Dunkelklappe (9) schwenkt in den Beleuchtungs¬ strahlengang (15) ein; (c3) der Drehspiegel (11) schwenkt aus dem Meßstrahlen¬ gang (-10) aus; • . (c4) die Dunkelklappe (12) im Beobachtungsstrahlengang
    (13) klappt in Wirkstellung; (c5) der Lichtempfänger (21) mißt das durch die Detail eß- blende (24) fallende Licht, der durch den Licht¬ empfänger (21) gemessene Wert wird sodann einem Belichtungssteuersystem (2) zugeführt und gespeichert; (c6) das Strahlenteiler-System (1) wird nunmehr derart positioniert, daß der Strahlenteiler-Würfel (lc) in Diagonalstellung zur optischen Mikroskopachse (26) gelangt; (c7) der Detailmeßblenden-Träger (7) mit der Detailme߬ blende (24) schwenkt aus dem Meßstrahlengang (15) heraus; (c8) der Lichtempfänger (21) mißt das durch die Integral¬ meßblende (23) fallende Licht und der durch den Lichtempfänger (21) gemessene Wert wird wieder dem Belichtungssteuersystem (2) zugeführt, welches sodann dem soeben gemessenen Wert eine solche Belichtungs¬ zeit zuordnet, die derjenigen Zeit entspricht, welche gemäß dem Teilschritt (c5) ermittelt wurde; (c9) das Belichtungssteuersystem (2) öffnet den Verschluß (20) für eine Belichtung eines in der Ebene (18) angeordneten Bildaufnahmemediums, beispielsweise eines Films, wobei die Belichtungsmessung während des Belichtungsvorgaπgs erfolgt und bei sich verändernden Objekthelligkeiten gleichzeitig eine entsprechende Korrektur der Belichtungszeit vorgenommen wird; • (clO) nach erfolgter Belichtung und Sperren des Ver¬ schlusses (-20) für den weiteren Durchtritt des Fotostrahlengangs (16) wird das Strahlenteiler-System (1) wieder in die Ausgangsposition - der Glaswürfel (la) also in Wirkstellung - zurückgeführt, wobei gleichzeitig die Lampe (8) eingeschaltet, der Dreh¬ spiegel (11) in den Meßstrahlengang (10) geschwenkt, die Dunkelklappen (9 bzw. 12) ausgeschaltet und das Bildaufnahmemedium weitertransportiert werden.
    5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 und 4, d a - d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die zeitl che
    Aufeinanderfolge der Teil-Verfahrensschritte (cl) bis (c4) eine beliebige ist.
    6. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 und 3, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die zeitliche Aufeinanderfolge der jeweiligen Teil-Verfahrens¬ schritte (cl) bis (c5) eine beliebige ist.
    7. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß zusätzlich eine Farbtemperaturmessung durch Einfügen eines Um¬ lenkspiegels (29) in den Meßstrählengang (10) erfolgt, wobei das 5 dadurch abgezweigte Farbtemperatur-Meßstrahlenbündel (17) nach Durchtritt durch ein Bildaufspaltungs-Element,beispielsweise ein L,inien- oder Prismen-Raster (30), in zwei Teilbündel (17a;17b) aufgeteilt wird derart, daß das Teilbündel (17a) nach Passieren eines Blaufilters (31) und das Teilbündel (17b) nach Passieren 10 eines Rotfilters (32) auf je einen Lichtempfänger (33 bzw. 34), beispielsweise Silizium-Dioden, fällt.
    8. Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 6, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß zusätzlich eine Computerb itz-Einrichtung durch Einfügen eines Umlenk-
    15 spiegeis (29) in den Meßstrahlengang an das Gesamtsystem optisch angekoppelt wird, wobei die mikrofotografischen Funktionen auto¬ matisch auf Integralmessung geschaltet werden und im Steuergerät (28) automatisch eine Blitz-Bereitschaft realisiert ist.
    9. Mikrofotografische Vorrichtung zur Durchführung des 20.' Verfahrens nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche mit einem Mikroskop-Tubus mit Rückspiegeleinrichtung und einem Fotookular, dem eine Einrichtung zur Messung der Helligkeit eines Objektdetails sowie Markierungen zur Sichtbarmachung min¬ destens eines Detailmeßfeldes und des Bildfeldes einer Kamera im 5 Beobachtungsstrahlengang nachgeordnet sind, wobei eine das Detailmeßfeld in der Funktionsebene, die eine zum Okularzwi- schenbild konjugierte Ebene ist, in dem dem gesamten Bildfeld zugeordneten Bereich verstellbar ausgebildet und die Detailme߬ blende in einem ersten Beleuchtungsstrahlengang sowie ein die Bildfeldmarkierung enthaltender Träger in einem zweiten Be¬ leuchtungsstrahlengang angeordnet ist, daß ein die beiden Be- leuchtungs-Teilstrahlengänge vereinigender erster Strahlen¬ teiler vorgesehen und ein zweiter Strahlenteiler derart zwi- sehen dem Kameraverschluß und der Okularoptik des Mikroskops angeordnet ist, daß die durch die vereinigten Beleuchtungs- Teilstrahlengänge übertragenen Bilder der Detailmeßblende und der Bildfeldmarkierung in die Okularzwischenbildebene überla¬ gert eingespiegelt werden, d a d u r c h g e k e n n - z e i c h n e t , daß anstelle des zweiten Strahlenteilers ein Strahlenteiler-System (1) in der optischen Mikroskopachse (26) querverschieblich zu dieser angeordnet ist, wobei das motorisch positionierbare Strahlenteiler-System (1) mindestens zwei Strahlenumlenkelemente (la,lb bzw. la, lc) enthält, von denen das eine ein Glaswürfel (la) mit diagonaler Vollverspiege¬ lungsfläche und das andere ein Strahlenteiler-Würfel (lc) mit diagonaler Teilerspiegel-Fläche (1b) mit einem Transπris- sions-/Reflexions-Verhältnis von 50/50 bzw. mit diagonaler Teilerspiegel-Fläche (lc) mit einem Transmissions-/Reflexions- Verhältnis > 1 ist ,und im Beleuchtungsstrahlengang (15) für die Detailmeßblende (24) zwischen der Lampe (8) und einem in den Meßstrahlengang (10) einbringbaren vollverspiegelten Drehspiegel (11) eine ein- und ausschwenkbare Dunkelklappe (9) angeordnet ist.
    10. Vorrichtung nach Anspruch 9, d a d u r c h g e ¬ k e n n z e i c h n e t , daß der Strahlenteiler-Würfel (lc) ein diskretes Transmissions-/Reflexions-Verhältnis zwischen 95/5 und 99,5/0,5 - vorzugsweise 99/1 - aufweist.
    11. Vorrichtung nach Anspruch 9, d a d u r c h g e - k e n n z e i c h n e t , daß das Strahlenteiler-System (1) neben dem Glaswürfel (la) mit diagonaler Vollverspiege¬ lungsfläche mindestens zwei Strahlenteiler-Würfel mit diskreten Transmissions-/Reflexions-Verhältnissen ≥ 1 aufweist.
    12. Vorrichtung nach mindestens einem der Anspüche 9 bis
    11, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Strahlenteiler Neutral- und/oder dichromatische Teilerflächen aufweisen.
    13. Vorrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 9 bis
    12, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß zu¬ sätzlich ein in den Meßstrahlengang (10) einbringbarer Umlenk¬ spiegel (29) vorgesehen ist, von dem ein Farbtemperatur- Meßstrahlengang (17) ausgeht, welcher nach Durchtritt durch ein Raster (30) in zwei Teilstrahlenbündel (17a,17b) aufgespalten wird, die nach Passieren eines Blau- bzw. eines Rotfilters (31 bzw. 32) jeweils auf einen Lichtempfänger (33 bzw. 34) auftreffen.
    14. Vorrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 9 bis 12, d a d u r c h g e k e n n n z e i c h n e t , daß zur Erzielung eines Transmissions-/Reflexions-Verhältnisses der Teilerspiegel-Fläche des Strahlenteiler-Würfels (lc) zwischen 95/5 und 99,5/0,5 zwischen der Brechzahl des Prismenmaterials und derjenigen des Kittschichtmaterials des Strahlenteiler- würfeis (lc) jeweils eine diskrete Differenz besteht.
    ZΌ
    B e z u g s z e i c h e n l i s t e
    1 Strahlenteiler-System la Vollverspiegelungsfläche des Glaswürfels
    (in 45°-Stellung zu (26)) lb Strahlenteiler-Würfel (50/50;Teiler-Fläche in 45°-Stellung zu (26)) lc Strahlenteiler-Würfel (99/1; Teiler-Fläche in 45°-Stellung zu 26))
    2 Belichtungssteuersystem
    3 (Format-)Strichplatte und Schärfekreuz 4 Mikroskop-Tubus
    5 Mikroskop-Okular
    6 Objekt
    7 Detailmeßblenden-Träger, ausklappbar
    8 Lampe 9 Dunkelklappe in (15)
    10 Meßstrahlengang
    11 Drehspiegel (Vollspiegel)
    12 Dunkelklappe in (13)
    13 Beobachtungsstrahlengang 14 Beleuchtungs-Teilstrahlengang für (3)
    15 Beleuchtungs-Teilstrahlengang für (24)
    16 Fotostrahlengang
    17 Farbte peraturmeßstrahlengang
    18 Bildaufnahme-Ebene 19 Fotookular
    20 Verschluß
    21 Lichtempfänger
    22 Auslösetaste
    23 Integralmeßblende, ortsfest ZA
    24 Detailmeßblende, ortsvariabel
    25 Strahlenteiler (50/50)
    26 optische Mikroskopachse
    27 Beobachter 28 Steuergerät
    29 Umlenkspiegel, in (10) einfügbar
    30 (Linien- oder Prismen-)Raster
    31 Blaufilter
    32 Rotfilter 33,34 Lichtempfänger
    35 Umlenkspiegel
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    同族专利:
    公开号 | 公开日
    US4837595A|1989-06-06|
    DE3768478D1|1991-04-11|
    AT61486T|1991-03-15|
    DE3627354A1|1988-01-14|
    EP0276303B1|1991-03-06|
    EP0276303A1|1988-08-03|
    JPH01501253A|1989-04-27|
    引用文献:
    公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
    法律状态:
    1988-01-28| AK| Designated states|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): JP US |
    1988-01-28| AL| Designated countries for regional patents|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): AT CH DE FR GB IT NL SE |
    1988-03-14| WWE| Wipo information: entry into national phase|Ref document number: 1987906147 Country of ref document: EP |
    1988-08-03| WWP| Wipo information: published in national office|Ref document number: 1987906147 Country of ref document: EP |
    1991-03-06| WWG| Wipo information: grant in national office|Ref document number: 1987906147 Country of ref document: EP |
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
    DE3623615||1986-07-12||
    DEP3623615.2||1986-07-12||
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